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Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
苏ICP备18046951号-1
