Espectrômetro EDXRF de bancada: Análise elementar rápida e não destrutiva (método FP)
Mar 11 , 2026
Este vídeo apresenta o analisador XRF de bancada com método FP (Parâmetro Fundamental) para análise quantitativa sem padrões.
Não é necessária nenhuma amostra padrão.
Ensaios não destrutivos
Análise elementar de varredura completa
Intervalo de elementos: F(9) – U(92)
Análise rápida: aproximadamente 15 minutos por amostra.
Ideal para novos materiais, resíduos industriais, análise de metais e conformidade com RoHS.
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