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Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Sistema de leitura CMOS de alta resolução
Baixo custo total de propriedade
Óptica a vácuo que permite estabilização rápida
Excelente estabilidade a longo prazo
Design inteligente, design modular
Aplicações ferrosas e não ferrosas
Fácil de usar com controle total pelo PC.
Interface de usuário amigável
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