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baseado em ccd, descarga de faísca, analisador de metal. análise precisa de todos os metais comuns para controle de qualidade do produto de entrada e saída. faixa de comprimento de onda efetiva: 130nm-800nm. escalabilidade superior para atender às necessidades de expansão dos negócios robusto e confiável, fácil de operar disponível como modelo de bancada ou piso
Espectrômetro de emissão óptica baseado em CMOS, descarga de faísca
Multi-bases, análise de espectro completo para máxima flexibilidade elementar
Limites ultrabaixos de detecção
Faixa de comprimento de onda: 130nm-800nm, máximo de 30+ elementos
Estabilidade e repetibilidade a longo prazo
Excelente espectroscopia de emissão óptica vertical
Medidor de vácuo para monitorar o status do vácuo em tempo real
Análise de carbono ultrabaixo, baixo nitrogênio
Aplicações de análise de amostras pequenas
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