Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Desempenho estável para operação industrial 24 horas por dia, 7 dias por semana.
Ideal para controle de qualidade frontal do forno e verificação de materiais.
O que é o Spark OES / Espectrômetro de Emissão Óptica Spark?
Também conhecido como Espectrômetro de Emissão Óptica (OES) de Espectro Completo Este instrumento utiliza a tecnologia de espectroscopia de emissão atômica.
Com excitação por arco ou faísca, as amostras metálicas geram espectros característicos. Seu sistema de detecção de espectro completo coleta simultaneamente todos os sinais de comprimento de onda e, em seguida, calcula e exibe automaticamente o conteúdo de vários elementos.
Caracterizado por testes rápidos, alta precisão e operação fácil, é amplamente utilizado em metalurgia, fundição, fabricação de máquinas e inspeção de materiais.
Características do Espectrômetro de Emissão Óptica Spark
1. Sistema Óptico de Desempenho Superior, Fonte de Faísca Digital Inteligente.
2. Ele pode detectar elementos como C, P, S e N, sendo adequado para uma variedade de bases metálicas.
3. O projeto do circuito de gás argônio é adequado para reduzir o tempo de lavagem com argônio durante a excitação da amostra.
4. A taxa de análise é rápida, todos os elementos no canal podem ser testados em 20 segundos.
5. A armadilha de absorção sólida pode impedir que óleo e gás contaminem a câmara de luz e melhorar sua estabilidade.
6. Modificação padronizada de parâmetros.
7. Função de correção da amostra de controle.
8. Os componentes principais são todos originais e importados para garantir a qualidade dos produtos.
Aplicação do espectrômetro de leitura direta
Inspeção de matéria-prima
Verificar a composição química do ferro-gusa, dos aditivos de liga e dos lingotes metálicos antes da produção, para bloquear materiais não conformes.
Análise da Frente do Forno
Teste rapidamente o metal fundido durante a fundição. Os operadores podem ajustar a proporção em tempo hábil para manter os componentes dentro dos padrões exigidos.
Verificação de qualidade do produto
Testar com precisão as peças fundidas e os componentes acabados para confirmar se atendem aos padrões da indústria e aos requisitos do cliente.
Desenvolvimento de ligas e ajuste de fórmulas
Apoiar a pesquisa de novos materiais e o aprimoramento de fórmulas para melhorar o desempenho do produto.
Gestão e Rastreabilidade de Dados
Registre automaticamente os dados dos testes e gere relatórios, facilitando a auditoria de qualidade e a certificação do produto.
Parâmetro :
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Item |
Índice |
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Sistema óptico |
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Estrutura óptica |
Sistema óptico de construção Paschen Runge totalmente a vácuo |
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Temperatura ambiente |
35 ℃ ±0,5 ℃ |
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Faixa de comprimento de onda |
130-800nm |
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Distância focal |
400 mm |
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Linha de grade |
2400m1/mm |
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Dispersão de linha espectral de primeira ordem rara |
1,2 nm/mm |
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Detector |
Matriz CMOS linear de alto desempenho com múltiplos blocos |
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taxa de resolução média |
22h/pixel |
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Tabela de faíscas |
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Gás |
Gás argônio (99,999%) |
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Taxa de fluxo de argônio |
Quando a ignição ocorre: 3-5 L/min Tempo de espera: sem necessidade de tráfego de espera |
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Eletrodo |
tecnologia de eletrodo de tungstênio |
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Purga |
Função de purga automática |
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Inventar |
Projeto de autocompensação de deformação térmica |
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Analise a lacuna |
Estágio da amostra: 3,4 mm |
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Fonte Spark |
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Tipo |
HEPS |
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Freqüência |
100-1000 Hz |
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Corrente de descarga |
1-400A |
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Tecnologia especial |
Otimização do projeto de parâmetros de descarga |
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Pré-combustão |
Tecnologia de pré-combustão de alta energia |
|
Processador |
ARM de alta gama, aquisição e processamento de sincronização de dados em alta velocidade. |
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Sistema de coleta de dados |
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Interface |
Transmissão de dados Ethernet baseada em DM9000A |
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Poder |
220 VCA 50/60 Hz (Personalizado) |
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Outros |
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Base |
Fe, Cu, Al, Ni, Co, Mg, Ti, Zn, Pb, Sn, Ag, Mn, Cr etc. |
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Consumo de energia |
Potência máxima: 750 W; Potência em espera: 40 W |
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Temperatura de trabalho |
10-35 ℃ ( temperatura ≥5°C ） |
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Umidade de trabalho |
20-85% |
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Dimensão |
860 mm (C) * 680 mm (L) * 438 mm (A) |
|
Peso |
Aproximadamente 100 kg |
O espectrômetro de emissão óptica W5 é o mais avançado Arc/Spark-OES com desempenho excepcional.
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS
Limites de detecção ultrabaixos
Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.
Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.
Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%
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