Materiais de referência certificados pelo SUS

1 série crms de alumínio

2 séries de crms de alumínio

3 séries de crms de alumínio

4 séries de crms de alumínio

5 séries de alumínio crms

6 séries de crms de alumínio

7 séries de crms de alumínio

8 séries de alumínio crms

materiais de referência certificados baseados em fe

materiais de referência certificados baseados em ni

materiais de referência certificados baseados em cu

materiais de referência certificados baseados em al

materiais de referência certificados à base de mg

materiais de referência certificados baseados em sn

materiais de referência certificados baseados em pb

materiais de referência certificados baseados em fe

materiais de referência certificados baseados em ni

materiais de referência certificados baseados em cu

materiais de referência certificados baseados em al

materiais de referência certificados à base de mg

materiais de referência certificados baseados em sn

materiais de referência certificados baseados em pb

materiais de referência certificados baseados em fe

materiais de referência certificados baseados em ni

materiais de referência certificados baseados em cu

materiais de referência certificados baseados em al

materiais de referência certificados à base de mg

materiais de referência certificados baseados em sn

materiais de referência certificados baseados em pb

materiais de referência certificados baseados em fe

materiais de referência certificados baseados em ni

materiais de referência certificados baseados em cu

materiais de referência certificados baseados em al

materiais de referência certificados à base de mg

materiais de referência certificados baseados em sn

materiais de referência certificados baseados em pb

Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS

Limites de detecção ultrabaixos

Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.

Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.

Modificação de parâmetros padronizados

Máximo de 30+ elementos

Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%

Desempenho estável para operação industrial 24 horas por dia, 7 dias por semana.

Ideal para controle de qualidade frontal do forno e verificação de materiais.

ICP-OES simultâneo para análise elementar de líquidos

faixa de comprimento de onda: 195-800nm

para 70 oligoelementos e macroelementos

analise até 600 amostras por dia

baixo custo operacional

operação intuitiva

limites ultrabaixos de detecção

ultra-alta velocidade de medição

Analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração

Detecção de metais por descarga de faísca baseada em CMOS

Limites de detecção ultrabaixos

Alto nível de integração, confiabilidade e estabilidade.

Redução dos custos operacionais e facilidade de manutenção.

Câmara óptica a vácuo e baixo consumo de argônio

Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de pequenas amostras.

Modificação de parâmetros padronizados

Máximo de 30+ elementos

Análise de nitrogênio (N) elevado: 0,03-0,9%