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Sistema de leitura CMOS de alta resolução
Baixo custo total de propriedade
Óptica de vácuo permitindo estabilização rápida
Excelente estabilidade a longo prazo
Design inteligente, design modular
Aplicações ferrosas e não ferrosas
Fácil de usar com controle total do PC
Interface de usuário amigável
Sistema de leitura CMOS de alta resolução
Baixo custo total de propriedade
Óptica de vácuo permitindo estabilização rápida
Excelente estabilidade a longo prazo
Design inteligente, design modular
Aplicações ferrosas e não ferrosas
Fácil de usar com controle total do PC
Interface de usuário amigável
O analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Baseado em CMOS, descarga de faísca, detecção de metais
Limites de detecção ultrabaixos
Alta integração, confiabilidade, estabilidade
Baixo custo operacional e fácil manutenção
Câmara óptica de vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de amostras pequenas
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de alto nitrogênio (N) 0,03-0,9%
O analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Baseado em CMOS, descarga de faísca, detecção de metais
Limites de detecção ultrabaixos
Alta integração, confiabilidade, estabilidade
Baixo custo operacional e fácil manutenção
Câmara óptica de vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de amostras pequenas
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de alto nitrogênio (N) 0,03-0,9%
O analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Baseado em CMOS, descarga de faísca, detecção de metais
Limites de detecção ultrabaixos
Alta integração, confiabilidade, estabilidade
Baixo custo operacional e fácil manutenção
Câmara óptica de vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de amostras pequenas
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de alto nitrogênio (N) 0,03-0,9%
O analisador de metais de alto desempenho de 4ª geração
Baseado em CMOS, descarga de faísca, detecção de metais
Limites de detecção ultrabaixos
Alta integração, confiabilidade, estabilidade
Baixo custo operacional e fácil manutenção
Câmara óptica de vácuo e baixo consumo de argônio
Tecnologia de jato de argônio para otimizar a análise de amostras pequenas
Modificação de parâmetros padronizados
Máximo de 30+ elementos
Análise de alto nitrogênio (N) 0,03-0,9%
Espectrômetro de emissão óptica baseado em CMOS, descarga de faísca
Multi-bases, análise de espectro completo para máxima flexibilidade elementar
Limites ultrabaixos de detecção
Faixa de comprimento de onda: 130nm-800nm, máximo de 30+ elementos
Estabilidade e repetibilidade a longo prazo
Excelente espectroscopia de emissão óptica vertical
Medidor de vácuo para monitorar o status do vácuo em tempo real
Análise de carbono ultrabaixo, baixo nitrogênio
Aplicações de análise de amostras pequenas
Análise no local flexível, confiável e segura
A qualquer hora, em qualquer lugar, inspeção no local
Identificação Positiva de Material (PMI)
Leve para ser cerca de 20Kg
Alta precisão e estabilidade
Adequado para tarefas de análise em diferentes condições
Compacto robusto e com óptica de alto desempenho
Design móvel inteligente e multimodal
Espectrômetro de emissão óptica baseado em CMOS, descarga de faísca
Multi-bases, análise de espectro completo para máxima flexibilidade elementar
Limites ultrabaixos de detecção
Faixa de comprimento de onda: 130nm-800nm, máximo de 30+ elementos
Estabilidade e repetibilidade a longo prazo
Excelente espectroscopia de emissão óptica vertical
Medidor de vácuo para monitorar o status do vácuo em tempo real
Análise de carbono ultrabaixo, baixo nitrogênio
Aplicações de análise de amostras pequenas
Análise no local flexível, confiável e segura
A qualquer hora, em qualquer lugar, inspeção no local
Identificação Positiva de Material (PMI)
Leve para ser cerca de 20 kg
Alta precisão e estabilidade
Adequado para tarefas de análise em diferentes condições
Compacto robusto e com óptica de alto desempenho
Design móvel inteligente e multimodal
baseado em ccd, descarga de faísca, analisador de metal. análise precisa de todos os metais comuns para controle de qualidade do produto de entrada e saída. faixa de comprimento de onda efetiva: 130nm-800nm. escalabilidade superior para atender às necessidades de expansão dos negócios robusto e confiável, fácil de operar disponível como modelo de bancada ou piso
Análise no local flexível, confiável e segura
A qualquer hora, em qualquer lugar, inspeção no local
Identificação Positiva de Material (PMI)
Leve para ser cerca de 20 kg
Alta precisão e estabilidade
Adequado para tarefas de análise em diferentes condições
Compacto robusto e com óptica de alto desempenho
Design móvel inteligente e multimodal